一种单光子探测器的测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种单光子探测器的测试装置，包括测试电路，该测试电路包括控制器、时钟模块、时间位置测量模块、光源模块、光衰减模块、分光器模块，控制器上设有与人机交换设备相连接的端口以及分别与时钟模块、时间位置测量模块、光源模块相连接的端口，光源模块依次与光衰减模块、分光器模块相连接，且时钟模块、时间位置测量模块以及分光器模块上皆设有能够与单光子探测器设备相连接的端口，上述部件构成的测试电路能够对单光子探测器设备进行测试。本实用新型的装置能够避免外接光源设备、光衰减器，采用该装置的测试方法能够解决单光子探测器的探测效率、暗计数概率、后脉冲概率、有效门宽的测试标定问题。
基本信息
专利标题 ：
一种单光子探测器的测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920734226.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-22
授权号 ：
CN209069421U
授权日 ：
2019-07-05
发明人 ：
沈方红王蔷薇申子要
申请人 ：
北京中创为南京量子通信技术有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市浦口区江浦街道仁山路1号园区2号楼办公室东侧ER301室
代理机构 ：
南京天华专利代理有限责任公司
代理人 ：
李德溅
优先权 ：
CN201920734226.2
主分类号 ：
G01J1/44
IPC分类号 ：
G01J1/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
G01J1/44
电路
法律状态
2019-07-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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