一种光电标相对位置测量装置
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摘要

本发明涉及一种光电标相对位置测量装置由台架、平台、水平转体和垂直转体组成,采用投影法,通过测距和角度相对关系,方便实现了光、电标的相对位置测量。将装置放置在光电标正前方,将激光测距仪的红外射口与过渡杆中心垂直,通过激光测距仪的调平水柱进行水平调平,转动平台使平台标识线垂直光电标法线位置。转动水平和垂直转体,使得激光测距仪激光指向天线中心,得到距离值和水平与垂直角度值;再次转动水平和垂直转体,使得激光测距仪激光指向光标,得到距离值和水平与垂直角度值,通过勾股定律计算得到光电标相对位置。本发明在应用中,放置、调整方便,可以实现对目标相对位置的测量,具有极强应用价值。

基本信息
专利标题 :
一种光电标相对位置测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN106610268A
申请号 :
CN201710064059.0
公开(公告)日 :
2017-05-03
申请日 :
2017-02-04
授权号 :
CN106610268B
授权日 :
2022-05-03
发明人 :
潘高峰何剑伟毛南平谢勇刘四方梁盛夏利利
申请人 :
中国人民解放军63686部队
申请人地址 :
江苏省无锡市江阴市103信箱508号
代理机构 :
江阴市同盛专利事务所(普通合伙)
代理人 :
唐纫兰
优先权 :
CN201710064059.0
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-05-03 :
授权
2017-05-31 :
实质审查的生效
号牌文件类型代码 : 1604
号牌文件序号 : 101722959942
IPC(主分类) : G01B 11/00
专利申请号 : 2017100640590
申请日 : 20170204
2017-05-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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