一种用于光纤中子探测系统测试与标定的探头及其测试标定方法
授权
摘要
本发明属于核辐射探测技术领域，涉及一种用于光纤中子探测系统测试与标定的探头及其测试标定方法。所述的用于光纤中子探测系统测试与标定的探头包括光纤末端、均匀涂覆在光纤末端表面的探测材料，及覆盖在探测材料外的金属盖帽，所述的探测材料由含232Th的物质以及闪烁体材料组成；所述的金属盖帽起到既能保证被测中子顺利通过，又能避光的作用。利用本发明的用于光纤中子探测系统测试与标定的探头，可以产生稳定的微弱荧光，该荧光既具有来自高电离能力的粒子(α粒子)的贡献，也具有来自低电离能力的粒子(β、γ粒子)的贡献，从而无需强中子场即可进行整套光纤中子探测系统的测试及部分标定实验，简化了光纤中子探测系统的测试及标定过程。
基本信息
专利标题 ：
一种用于光纤中子探测系统测试与标定的探头及其测试标定方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN108535769A
申请号 ：
CN201710122548.7
公开（公告）日 ：
2018-09-14
申请日 ：
2017-03-03
授权号 ：
CN108535769B
授权日 ：
2022-06-07
发明人 ：
陈宝维朱庆福周琦李健杨中建白召乐谢伟民程昊杨楠
申请人 ：
中国辐射防护研究院
申请人地址 ：
山西省太原市小店区学府街102号
代理机构 ：
北京天悦专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
任晓航
优先权 ：
CN201710122548.7
主分类号 ：
G01T7/00
IPC分类号 ：
G01T7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T7/00
辐射计量仪器的附件
法律状态
2022-06-07 ：
授权
2020-01-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01T 7/00
申请日 : 20170303
申请日 : 20170303
2018-09-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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