特征点检测方法、装置及电子设备

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摘要

本发明实施例公开了一种特征点检测方法、装置及电子设备，涉及图像处理技术领域，能够解决现有技术中特征点识别的实时性和准确性问题。本发明实施例的特征点检测方法包括：获取目标图像的深度特征信息；基于所述深度特征信息，将在所述目标图像上提取的快速特征点区分为前景特征点和后景特征点；对所述前景特征点进行强特征检测，得到所述目标图像的强特征点；将所述强特征点作为所述目标图像的目标特征点。此外，本发明实施例还公开了特征点检测装置、电子设备。通过上述方案，能够兼顾特征点识别的实时性和准确性，提高了特征点识别的效率。

基本信息

专利标题：

特征点检测方法、装置及电子设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN108960012A

申请号：

CN201710366545.8

公开（公告）日：

2018-12-07

申请日：

2017-05-22

授权号：

CN108960012B

授权日：

2022-04-15

发明人：

田光亚

申请人：

中科创达软件股份有限公司

申请人地址：

北京市海淀区龙翔路甲1号泰翔商务楼4层401-409

代理机构：

北京市广友专利事务所有限责任公司

代理人：

祁献民

优先权：

CN201710366545.8

主分类号：

G06K9/00

IPC分类号：

G06K9/00