一种用于高通量基因测序设备的工艺芯片及其应用

授权

摘要

本申请公开了一种用于高通量基因测序设备的工艺芯片及应用。本申请工艺芯片，包括硅片和硅片上的标记金属膜视场和OnPixle视场；标记金属膜视场包括：第一组：在视场中心的圆周上均匀设至少两组标记金属膜，每组沿中心线各设至少2个圆形金属膜标记；第二组：标记金属膜视场平分九份，在每区域内相应位置设刃边图形组，每组由两相同刃边图形呈侧卧“八”字形排布，刃边图形由金属膜标记而成；第三组：由N组一线排开的金属膜标记组成，每组包括两圆形金属膜标记，两圆形金属膜标记间距沿排列方向递增；OnPixle视场内均匀排布若干圆形金属膜标记。本申请工艺芯片，能有效评价工件台运动性能、光学系统成像质量，无生化反应误差，测试更准确，生命周期长。

基本信息

专利标题：

一种用于高通量基因测序设备的工艺芯片及其应用

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN109957503A

申请号：

CN201711340917.6

公开（公告）日：

2019-07-02

申请日：

2017-12-14

授权号：

CN109957503B

授权日：

2022-05-31

发明人：

孙志远乔彦峰苗亮杨旺

申请人：

长光华大基因测序设备（长春）有限公司

申请人地址：

吉林省长春市经开区营口路77号孵化基地1号楼

代理机构：

深圳鼎合诚知识产权代理有限公司

代理人：

李小焦

优先权：

CN201711340917.6

主分类号：

C12M1/34

IPC分类号：

C12M1/34

IPC结构图谱

C部——化学；冶金

C12

生物化学；啤酒；烈性酒；果汁酒；醋；微生物学；酶学；突变或遗传工程

C12M

酶学或微生物学装置

C12M1/34

•用条件测量或信号传感方法测量或检验，如菌落计数器

法律状态

2022-05-31 ：

授权

2021-05-07 ：

著录事项变更

IPC(主分类) : C12M 1/34
变更事项 : 申请人
变更前 : 长光华大基因测序设备（长春）有限公司
变更后 : 长春长光华大智造测序设备有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 130033 吉林省长春市经开区营口路77号孵化基地1号楼
变更后 : 130033 吉林省长春市经济开发区营口路77号孵化基地1号楼

2019-07-26 ：

实质审查的生效

IPC(主分类) : C12M 1/34
申请日 : 20171214

2019-07-02 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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