测量高速移动的弯曲物体上沉积涂层厚度的不依赖于物体位置的...
授权
摘要
本申请提供了测量移动物体上涂层厚度的方法和装置。在物体上预定位置处将光引导到物体，使得一部分光与物体相互作用。拍摄至少一个波长通道的ID和/或2D最大强度，其由与物体相互作用的那部分光产生。将测得的该波长通道的平均强度和/或多个波长通道几何特征的强度及其算术衍生结果转化为ID(平均)和/或2D厚度值。基于这些值评估涂层的可接受度并计算厚度。
基本信息
专利标题 ：
测量高速移动的弯曲物体上沉积涂层厚度的不依赖于物体位置的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN108474732A
申请号 ：
CN201780006021.6
公开（公告）日 ：
2018-08-31
申请日 ：
2017-01-04
授权号 ：
CN108474732B
授权日 ：
2022-04-15
发明人 ：
G·E·莫伊勒R·Y·科罗特科夫R·C·史密斯
申请人 ：
阿科玛股份有限公司
申请人地址 ：
美国宾夕法尼亚州
代理机构 ：
上海专利商标事务所有限公司
代理人 ：
乐洪咏
优先权 ：
CN201780006021.6
主分类号 ：
G01N21/00
IPC分类号 ：
G01N21/00 G01B11/28 G01N21/84
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
法律状态
2022-04-15 ：
授权
2018-11-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/00
申请日 : 20170104
申请日 : 20170104
2018-08-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN108474732A.PDF
PDF下载
