一种涂层测厚仪及涂层厚度检测方法
授权
摘要
一种涂层测厚仪及涂层厚度检测方法，所述涂层测厚仪包括：壳体、检测头、副电路板、显示屏、USB接口、电池、开关按键、主电路板和触发开关。本发明提供一种涂层测厚仪及涂层厚度检测方法，与传统的模拟震荡电路不同，激励信号采用数字震荡技术，采用高速ADC采集检测信号，确保仪器超高稳定性；超高的测量精度和重复性为测量很薄的覆层厚度提供了有效手段，可用于钢铁等铁磁性金属基体上的涂料、清漆、搪瓷、铬、镀锌等非磁性涂层的测量，尤其适合于精度要求高的薄镀层测量。
基本信息
专利标题 ：
一种涂层测厚仪及涂层厚度检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111649662A
申请号 ：
CN202010552100.0
公开（公告）日 ：
2020-09-11
申请日 ：
2020-06-17
授权号 ：
CN111649662B
授权日 ：
2022-06-03
发明人 ：
张庸夫
申请人 ：
深圳市林上科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区五区新安一路南天辉商厦4楼407房、408房
代理机构 ：
深圳汇策知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
梁超
优先权 ：
CN202010552100.0
主分类号 ：
G01B7/06
IPC分类号 ：
G01B7/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
G01B7/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B7/06
用于计量厚度
法律状态
2022-06-03 ：
授权
2020-10-13 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 7/06
申请日 : 20200617
申请日 : 20200617
2020-09-11 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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