自动分析装置
授权
摘要
本发明提供能自动地测定探针、搅拌件等的水带入量并容易地确认在具备水滴除去机构的情况下是否正常地发挥功能的自动分析装置。具备探针或与液体接触来进行搅拌的搅拌件等清洗对象部件、用清洗液清洗清洗对象部件的清洗槽、及测定收纳于反应盒的评价用试剂的光学特性的测定部，控制部使在清洗槽中清洗后的清洗对象部件与评价用试剂接触，并使测定部测定评价用试剂的接触后的光学特性，并基于测定出的光学特性来计算清洗对象部件将清洗液带入反应盒的带入量。
基本信息
专利标题 ：
自动分析装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN108780102A
申请号 ：
CN201780017289.X
公开（公告）日 ：
2018-11-09
申请日 ：
2017-01-31
授权号 ：
CN108780102B
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
千田早织有贺洋一安居晃启村松由规井上阳子为实秀人
申请人 ：
株式会社日立高新技术
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
北京银龙知识产权代理有限公司
代理人 ：
金成哲
优先权 ：
CN201780017289.X
主分类号 ：
G01N35/00
IPC分类号 ：
G01N35/00 G01N35/02 G01N35/10
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N35/00
不限于用G01N1/00至G01N33/00中任何单独一组提供的方法或材料所进行的自动分析；及材料的传送
法律状态
2022-05-17 ：
授权
2018-12-04 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 35/00
申请日 : 20170131
申请日 : 20170131
2018-11-09 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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