自动分析装置
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摘要

本发明涉及自动分析装置,提供一种技术在具备探针保护器时,确保操作者的安全性的同时,能实现容器的操作的方便性、容易性等。包括探针保护器(24),其相对于包含检体盘(1)的分配位置的一部分区域可进行安装和拆卸,在探针(32)的轨道周边具有保护壁。探针保护器(24)具有针对一部分区域的固定部(螺钉25)和插入部(突起45),具有在通过操作者安装或拆卸探针保护器(24)时,检测固定部的状态的第一机构(201)和检测插入部的状态的第二机构(202)。自动分析装置在探针保护器被拆卸时,检测到固定部的非固定状态时使分配动作转移至停止状态,检测到插入部的非插入状态时切断对分配动作所涉及的机构提供的驱动电力。

基本信息
专利标题 :
自动分析装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN109307778A
申请号 :
CN201810575686.5
公开(公告)日 :
2019-02-05
申请日 :
2018-06-06
授权号 :
CN109307778B
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
藤井大和濑户丸武
申请人 :
株式会社日立高新技术
申请人地址 :
日本东京
代理机构 :
上海专利商标事务所有限公司
代理人 :
万捷
优先权 :
CN201810575686.5
主分类号 :
G01N35/00
IPC分类号 :
G01N35/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N35/00
不限于用G01N1/00至G01N33/00中任何单独一组提供的方法或材料所进行的自动分析;及材料的传送
法律状态
2022-04-19 :
授权
2019-03-05 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 35/00
申请日 : 20180606
2019-02-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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