自动分析装置
授权
摘要
在自动分析装置中，为了实现更高灵敏度化，防止尘埃等混入到试料和试剂的反应部是重要的。本发明提出一种具备对反应部等装置内的特定区域、或者装置内进行正压化的结构的自动分析装置。通过进行正压化并形成从反应部或装置内流出的气流，从而将侵入反应部的尘埃抑制在一定量以下。
基本信息
专利标题 ：
自动分析装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN109642910A
申请号 ：
CN201780052093.4
公开（公告）日 ：
2019-04-16
申请日 ：
2017-08-04
授权号 ：
CN109642910B
授权日 ：
2022-04-29
发明人 ：
海老原大介今井健太山下善宽松原茂树坂诘卓
申请人 ：
株式会社日立高新技术
申请人地址 ：
日本东京
代理机构 ：
上海专利商标事务所有限公司
代理人 ：
殷明
优先权 ：
CN201780052093.4
主分类号 ：
G01N35/00
IPC分类号 ：
G01N35/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N35/00
不限于用G01N1/00至G01N33/00中任何单独一组提供的方法或材料所进行的自动分析；及材料的传送
法律状态
2022-04-29 ：
授权
2019-05-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 35/00
申请日 : 20170804
申请日 : 20170804
2019-04-16 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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