允许更高光强度的利用时间相关单光子计数的荧光寿命成像显微...
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摘要
说明了一种利用时间相关单光子计数的荧光寿命成像显微学方法，其中借助脉冲式光源(12)周期性地以激发光脉冲对样品(36)进行激发以发射荧光光子，其中在每两个相继的激发光脉冲之间定义测量间隔；借助探测器(42)检测所述荧光光子并且产生代表检测到的荧光光子的模拟探测器信号；基于所述探测器信号确定探测时间，所述荧光光子在相应的测量间隔内在所述探测时间上被所述探测器(42)探测到；基于检测到的荧光光子的探测时间，确定至少一个表征荧光衰减特性的参量，以及借助所述表征参量进行成像。在相应的测量间隔内在多个采样间隔内对所述模拟探测器信号进行采样并且将所述模拟探测器信号转换成离散的配属于各个采样间隔的信号值的序列。借助属于相应的测量间隔的离散信号值序列，确定在该测量间隔内是否检测到多于预定数量的荧光光子。当检测到
基本信息
专利标题 ：
允许更高光强度的利用时间相关单光子计数的荧光寿命成像显微学方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN109477796A
申请号 ：
CN201780043767.4
公开（公告）日 ：
2019-03-15
申请日 ：
2017-05-24
授权号 ：
CN109477796B
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
V·塞弗里德B·威兹高斯基F·赫克特
申请人 ：
徕卡显微系统复合显微镜有限公司
申请人地址 ：
德国韦茨拉尔
代理机构 ：
北京泛华伟业知识产权代理有限公司
代理人 ：
王勇
优先权 ：
CN201780043767.4
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
2022-05-31 ：
授权
2019-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/64
申请日 : 20170524
申请日 : 20170524
2019-03-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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