控制装置、光学设备、控制方法和存储介质

授权

摘要

本发明涉及一种控制装置、光学设备、控制方法和存储介质。所述控制装置包括至少一个处理器，所述处理器用作：超前角检测单元；存储单元，用于存储表示多个轨迹的信息，所述多个轨迹中的各轨迹表示各驱动电压处的所述超前角和转子的转动速度之间的关系；目标超前角计算单元，用于基于所述信息来计算目标超前角；超前角控制单元；电压控制单元；以及切换单元，用于根据所述多个轨迹中的一个轨迹、所述目标超前角和所述驱动电压来在第一控制状态和第二控制状态之间切换，所述第一控制状态用于通过沿着该轨迹控制所述超前角来设置目标转动速度，以及所述第二控制状态用于通过在所述超前角固定的状态下控制驱动电压来设置所述目标转动速度。

基本信息

专利标题：

控制装置、光学设备、控制方法和存储介质

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN108880360A

申请号：

CN201810439374.1

公开（公告）日：

2018-11-23

申请日：

2018-05-09

授权号：

CN108880360B

授权日：

2022-06-07

发明人：

石川大介

申请人：

佳能株式会社

申请人地址：

日本东京都大田区下丸子3丁目30番2号

代理机构：

北京魏启学律师事务所

代理人：

魏启学

优先权：

CN201810439374.1

主分类号：

H02P8/00

IPC分类号：

H02P8/00 H02P8/14