本发明实施例公开了变压器测试方法及相关装置，所述变压器承载在PCB主板上进行辐射干扰RE的测试，所述变压器由相互耦合的初级线圈和次级线圈组成，所述方法包括：通过网络分析仪获取第一端口和第二端口之间的散射参数，所述第一端口为所述初级线圈中主绕组的两个端口中的任一端口，所述第二端口为所述次级线圈中主绕组的两个端口中的任一端口；在所述散射参数大于或等于预设阈值的情况下，确定所述变压器为次品变压器。采用本发明实施例，能够解决现有技术中受限于变压器制造工艺导致RE特性测试不通过等问题。