一种测试方法、装置、存储介质及终端
授权
摘要
本发明公开了一种测试方法、装置、存储介质及终端,该方法包括:获取第一预定数量的测试参数;将当前数量的测试参数输入至打桩后的被测代码中;检测打桩后的被测代码执行当前数量的测试参数后的代码覆盖率是否超过预设阈值;在代码覆盖率超过预设阈值的情况下,记录当前数量的测试参数,以及打桩后的被测代码执行当前数量的测试参数中每个测试参数后对应的返回值。本发明在覆盖率超过预设阈值的情况下,证明测试参数的种类和数量已经可以满足代码测试的需求,并将当前数量的测试参数作为正式测试时使用的入参,即可达到使用测试用例进行测试的效果,不需要测试人员编写测试用例,进而达到了节省了人力成本和时间成本的目的。
基本信息
专利标题 :
一种测试方法、装置、存储介质及终端
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN109117365A
申请号 :
CN201810807505.7
公开(公告)日 :
2019-01-01
申请日 :
2018-07-18
授权号 :
CN109117365B
授权日 :
2022-04-22
发明人 :
孔德刚
申请人 :
北京城市网邻信息技术有限公司
申请人地址 :
北京市朝阳区酒仙桥北路甲10号院101号楼1-7层内1层103室
代理机构 :
工业和信息化部电子专利中心
代理人 :
张然
优先权 :
CN201810807505.7
主分类号 :
G06F11/36
IPC分类号 :
G06F11/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-04-22 :
授权
2019-01-25 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/36
申请日 : 20180718
申请日 : 20180718
2019-01-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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