射频测试方法、智能终端及存储介质
公开
摘要
本申请提出了一种射频测试方法、智能终端及存储介质，应用于控制端，控制端与射频单元和测试单元连接，射频单元和测试单元分别与开关连接，射频单元包括至少一个测试端口，开关包括至少一个开关通道，所述方法包括：发送目标校准指令至射频单元，以使射频单元控制目标开关通道导通，通过目标开关通道，控制测试单元对目标测试端口进行测试和/或校准。解决了现有连接方式中各零件占用较大内部空间，限制了整机内部零部件摆放的问题，同时也降低了整机成本。
基本信息
专利标题 ：
射频测试方法、智能终端及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114301550A
申请号 ：
CN202111637929.1
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-12-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
蒋与伦邓乐安陈林杨道庄
申请人 ：
重庆传音通讯技术有限公司
申请人地址 ：
重庆市渝北区仙桃街道数据谷东路19号
代理机构 ：
北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人 ：
杨泽
优先权 ：
CN202111637929.1
主分类号 ：
H04B17/14
IPC分类号 ：
H04B17/14 H04B17/21 H04B17/15 H04B17/29 H04M1/24
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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