测试方法、装置、终端及存储介质
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种存储介质的测试方法，包括：将所述存储介质转换成单层存储模式；以块为单位对所述存储介质进行读写测试，对坏块标识坏块标识；基于所述坏块标识以页为单位进行读写测试，对坏页标识第一坏页标识；将所述存储介质转换成多层存储模式；基于所述第一坏页标识确定单层存储模式下的单层存储坏页，并确定单层存储坏页在多层存储模式下对应的目标多层存储页；以页为单位对所述目标多层存储页进行读写测试，对所述目标多层存储页中的多层存储坏页标识第二坏页标识。本发明还公开测试装置、终端及存储介质。本发明能够在提高读写测试效率的同时降低标识坏块带来的容量损耗。
基本信息
专利标题 ：
测试方法、装置、终端及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114360619A
申请号 ：
CN202111677793.7
公开（公告）日 ：
2022-04-15
申请日 ：
2021-12-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
赖振楠
申请人 ：
深圳宏芯宇电子股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市福田区梅林街道梅都社区中康路136号深圳新一代产业园2栋2501、2401、1501
代理机构 ：
深圳市中科云策知识产权代理有限公司
代理人 ：
温艳华
优先权 ：
CN202111677793.7
主分类号 ：
G11C29/10
IPC分类号 ：
G11C29/10 G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试，例如，在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/10
测试算法，例如，存储扫描算法；测试码形，例如棋盘码形
法律状态
2022-05-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/10
申请日 : 20211231
申请日 : 20211231
2022-04-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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