一种测试方法、系统、智能终端及存储介质
公开
摘要
本发明公开了一种测试方法、系统、智能终端及存储介质，所述方法包括：获取待测设备的触发位置，所述触发位置为所述待测设备上用于触发所述待测设备运行的位置；获取与所述待测设备对应的测试程序；控制测试装置移动至所述触发位置以触发所述待测设备运行，并通过所述测试程序对所述待测设备进行测试。本发明可根据待测设备的触发位置，来控制所述测试装置移动至所述触发位置，并通过测试程序来对待测设备进行测试，测试效率高。
基本信息
专利标题 ：
一种测试方法、系统、智能终端及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114625582A
申请号 ：
CN202011466498.2
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2020-12-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
吴婕
申请人 ：
深圳TCL新技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区西丽街道中山园路1001号国际E城D4栋9楼
代理机构 ：
深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
朱阳波
优先权 ：
CN202011466498.2
主分类号 ：
G06F11/22
IPC分类号 ：
G06F11/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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