一种窄带物联网序列测试方法及装置
授权
摘要

本发明实施例公开了一种窄带物联网序列测试方法及装置,方法包括:将窄带物联网各参数的发射信号的测试用例进行合并,得到至少一个测试序列;根据至少一个测试序列生成待测设备的待测序列参数和测试仪的配置序列参数;控制测试仪根据配置序列参数向所述待测设备发射预设波形信号,以使待测设备接收到预设波形信号后,根据待测序列参数依次执行所述至少一个测试序列进行测试。通过将窄带物联网的若干个测试用例进行合并生成测试序列,减少了通信次数,较大地提升窄带物联网的检定测试速度,提高生产效率;同时通过生成待测设备的待测序列参数和测试仪的配置序列参数,能够定量地完成窄带物联网指定数据量的数据采集和分析,减少了不确定性。

基本信息
专利标题 :
一种窄带物联网序列测试方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN109526004A
申请号 :
CN201810840738.7
公开(公告)日 :
2019-03-26
申请日 :
2018-07-27
授权号 :
CN109526004B
授权日 :
2022-05-10
发明人 :
赵东科
申请人 :
大唐联仪科技有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区学院南路12号学创大厦A座3层
代理机构 :
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 :
王莹
优先权 :
CN201810840738.7
主分类号 :
H04W24/02
IPC分类号 :
H04W24/02  
法律状态
2022-05-10 :
授权
2019-04-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04W 24/02
申请日 : 20180727
2019-03-26 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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