一种基于MTP预端接光缆的测试方法
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摘要
本发明涉及一种基于MTP预端接光缆的测试方法，其步骤依次为：测试并确定LC‑LC参考跳线和LC‑LC测试跳线；光功率计测试数据的校正；确定所要使用的合格的LC‑MTP带针测试跳线；对预端接光缆系统的测试。该发明中通过确定的参考跳线和测试跳线对光功率计的数据予以校正，并在同样的测试系统下选定LC‑MTP带针测试跳线，依据选定的LC‑MTP带针测试跳线来对MTP预端接的光缆测试，测试简单快捷方便也不会损坏光缆，极大的提高测试效率以及测试数据的准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种基于MTP预端接光缆的测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110838873A
申请号 ：
CN201810937970.2
公开（公告）日 ：
2020-02-25
申请日 ：
2018-08-17
授权号 ：
CN110838873B
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
陈志平孔祥君付勇
申请人 ：
深圳市中兴新地技术股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区坂田街道办岗头新地路1号中兴新地工业园
代理机构 ：
深圳市硕法知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李晓阳
优先权 ：
CN201810937970.2
主分类号 ：
H04B10/079
IPC分类号 ：
H04B10/079
法律状态
2022-05-17 ：
授权
2020-03-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04B 10/079
申请日 : 20180817
申请日 : 20180817
2020-02-25 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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