单端接触绝缘子电位测试装置
视为撤回的专利申请
摘要
一种高电压测试领域使用的单端接触绝缘子电位测试装置，它用于测试电力系统中绝缘子的劣化程度。本装置仅用一端电位探头(2)与绝缘子接触，且探头(2)体积极小，其阻抗远大于绝缘子的输入阻抗，因此消除了电场中杂散电容的影响，提高了测试精度；本装置以数码形式显示测试结果；其重量轻、体积小、操作方便、安全，减轻了测试人员的劳动强度。采用此装置，可及时检测绝缘子的劣化程度，以利及时更换，提高了绝缘子安全运行的可靠性，减少了系统停电。
基本信息
专利标题 ：
单端接触绝缘子电位测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1043993A
申请号 ：
CN88109176.6
公开（公告）日 ：
1990-07-18
申请日 ：
1988-12-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张源斌
申请人 ：
西安交通大学
申请人地址 ：
陕西省西安市咸宁路28号
代理机构 ：
西安交通大学专利事务所
代理人 ：
贾玉健
优先权 ：
CN88109176.6
主分类号 ：
G01R31/12
IPC分类号 ：
G01R31/12 G01R15/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/12
•测试介电强度或击穿电压
法律状态
1992-08-19 ：
视为撤回的专利申请
1990-09-05 ：
实质审查请求
1990-07-18 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
