用于绝缘子非接触测量的回转装置
授权
摘要
本申请提供一种用于绝缘子非接触测量的回转装置,属于绝缘子检测领域。回转装置包括:基座;第一立柱和第二立柱,两个立柱基本垂直设置于基座上,第一立柱与第二立柱平行;支撑平台,其可滑动设于两个立柱上,支撑平台上的两个立柱的中点位置开设有一通孔;转动机构,其设于基座上,且位于两个立柱的中间位置,转动机构的上端可转动设于支撑平台的通孔中,转动机构的上端面可用于设置待测绝缘子,并可用于提供待测绝缘子转动的驱动力;顶尖机构,其可滑动设置于第一立柱或第二立柱上,顶尖机构设有可用于顶紧待测绝缘子上端面的顶尖部。对待测绝缘子起到平稳的支撑作用,能够对不同规格的绝缘子进行检测,保证了待测绝缘子转动的稳定性和可靠性。
基本信息
专利标题 :
用于绝缘子非接触测量的回转装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021560691.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-31
授权号 :
CN212989188U
授权日 :
2021-04-16
发明人 :
张锐武文华袁金灿姜璐璐付超曹晶刘翔汪英英袁田张勤王昱晴张虎杨磊唐芳张秋芬蔡勇江山郭靖徐偲达李佳宣李依琳李思行
申请人 :
中国电力科学研究院有限公司;国家电网有限公司;国网物资有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区清河小营东路15号
代理机构 :
北京工信联合知识产权代理有限公司
代理人 :
夏德政
优先权 :
CN202021560691.8
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88 G01N21/95 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2021-04-16 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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