自适应漫射照明系统和方法
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摘要

本文公开了用于照明和/或检查被测单元(UUT)的一个或多个特征部的系统和方法。根据本技术的实施例配置的系统可以包括例如机器、一个或多个漫射器元件,和/或一个或多个光源。该系统可以通过例如使用一个或多个光源和/或一个或多个漫射器元件在UUT的部分(例如,在弯曲特征部上)上创建和调整明场照明轮廓(例如,均匀的明场照明轮廓)用于调整投射到UUT的弯曲特征部上的漫射和/或镜面照明。在一些实施例中,该系统包括一个或多个暗场光源,其被配置成将照明投射到UUT的第二部分上以产生暗场照明轮廓。该系统可以捕获明场和/或暗场照明轮廓的数据,从而可以检查UUT的部分。

基本信息
专利标题 :
自适应漫射照明系统和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110006904A
申请号 :
CN201811654152.8
公开(公告)日 :
2019-07-12
申请日 :
2018-12-29
授权号 :
CN110006904B
授权日 :
2022-05-13
发明人 :
马克·米切尼维茨安德鲁·布洛尔斯
申请人 :
雷迪安特视觉系统有限公司
申请人地址 :
美国华盛顿州
代理机构 :
北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
邬玥
优先权 :
CN201811654152.8
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  G01N21/01  
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IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-05-13 :
授权
2019-08-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/88
申请日 : 20181229
2019-07-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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