优化的目标分析
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摘要

本发明公开了一种质谱测定法,其包括:a)提供时间上分离的前体离子;b)在多个连续的采集周期内对分离的前体离子和/或其衍生的产物离子进行质量分析,其中,谱仪的操作参数的值在不同的采集周期过程中变化;c)将在每个采集周期中获得的谱数据以及其相应的操作参数值一起存储;d)询问所存储的谱数据,并确定前体离子或产物离子的谱数据中的哪个谱数据满足预定标准,以及将提供该质谱数据的操作参数的值确定为目标操作参数值;以及e)再次对前体离子或产物离子进行质量分析,同时将操作参数设置为目标操作参数值。

基本信息
专利标题 :
优化的目标分析
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110494952A
申请号 :
CN201880024741.X
公开(公告)日 :
2019-11-22
申请日 :
2018-04-11
授权号 :
CN110494952B
授权日 :
2022-05-13
发明人 :
马丁·雷蒙德·格林詹森·李·维尔德古斯基思·理查森
申请人 :
英国质谱公司
申请人地址 :
英国威姆斯洛
代理机构 :
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
宋融冰
优先权 :
CN201880024741.X
主分类号 :
H01J49/00
IPC分类号 :
H01J49/00  
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J49/00
粒子分光仪或粒子分离管
法律状态
2022-05-13 :
授权
2019-12-17 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01J 49/00
申请日 : 20180411
2019-11-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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