用于集成电路的预测性维护的方法和系统

授权

摘要

本发明涉及一种用于电子器件（BE）的预测性维护的方法以及一种所属的系统。所要维护的电子器件（BE）实施为集成电路，尤其是实施为专用集成电路（ASIC）或者实施为所谓的现场可编程门阵列（FPGA）。为此，所要维护的电子器件（BE）在至少一个位置（P1、P2）上具有传感器（T1、U1、LZ1、T2、U2、LZ2），这些传感器在持续运行期间确定在至少一个位置（P1、P2）上的诸如温度和电压那样的系统参数以及信号渡越时间的当前值。安装在电子器件（BE）中的中央监控单元（UW）询问（1）系统参数和信号渡越时间的当前由在至少一个位置（P1、P2）上的传感器（T1、U1、LZ1、T2、U2、LZ2）所确定的值。接着，中央监控单元（UW）依据系统参数的当前所确定的值来确定对于在至少一个位置（P1、P2）上的信号渡越时间来说相应有效的极限值并且将在该至少一个位置（P1、P2）上的当

基本信息

专利标题：

用于集成电路的预测性维护的方法和系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN110892277A

申请号：

CN201880047799.6

公开（公告）日：

2020-03-17

申请日：

2018-07-18

授权号：

CN110892277B

授权日：

2022-06-03

发明人：

M.马特施尼格F.艾彭斯泰纳B.菲舍尔M.嘉米施路T.欣特斯托赛尔H.陶赫尔

申请人：

西门子股份公司

申请人地址：

德国慕尼黑

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司

代理人：

姬亚东

优先权：

CN201880047799.6

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01R31/317 G06F11/00

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/28

•电路的测试，例如用信号故障寻测器

法律状态

2022-06-03 ：

授权

2020-04-10 ：

实质审查的生效

IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20180718

2020-03-17 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

文件下载

暂无PDF文件可下载