本发明提供了一种使用用于检测第二装置(452)相对于第一装置(451)的位置的系统的方法，‑所述系统包括固定到第一装置(451)的场的阵列(461)，这些场由具有第一物理特性(S)的多个第一场(4611)和具有不同于第一物理特性(S)的第二物理特性(N)的多个第二场(4612)组成，所述第一场(4611)和第二场(4612)沿着所述场的阵列(461)以交替的方式布置，‑所述系统还包括固定到第二装置(452)的第一传感器(4521)和第二传感器(4622)，其中，第一传感器(4521)和第二传感器(4622)被布置成当第二装置(452)相对于第一装置(451)移动时沿着所述场的阵列(461)移动，‑第一传感器(4521)和第二传感器(4622)适于根据第一传感器(4521)和第二传感器(4622)相对于这些场(4611、4612)的位置来检测第一物理特性(S)或第二物理特性(N)，‑所述方法包括：在第二装置(452)相对于第一装置(451)移动期间，通过第一传感器(4521)来检测从第一物理特性(S)到第二物理特性(N)的转变或从第二物理特性(N)到第一物理特性(S)的转变，‑与所述转变检测基本同时地通过第二传感器(4622)检测第一物理特性(S)或第二物理特性(N)，‑以及，基于所检测到的转变和所检测到的物理特性来确定第二装置(452)相对于第一装置(451)的移动方向。