用于生成测试计划的方法和装置、用于测试测量对象的方法和装...
授权
摘要
本发明涉及一种用于生成用于测试测量对象(2)的测试计划的方法和装置，其中，提供了表示该测量对象(2)的数据记录(DS)，其中，基于数据来设置参考结构(RS1，RS2，RS3，RS4)，其中，将至少一个参考结构特定的测试特征分配给该参考结构(RS1，RS2，RS3，RS4)，其中，针对表示该测量对象(2)的该数据记录(DS)基于数据来测试是否存在与该参考结构(RS1，RS2，RS3，RS4)类似或相同的结构(S)，其中，将该参考结构特定的测试特征分配给每个类似或相同的结构(S)作为结构特定的测试特征，其中，该测试计划包括由此确定的这些结构特定的测试特征；并且涉及一种用于测试该测量对象的方法和装置并且涉及一种计算机程序。
基本信息
专利标题 ：
用于生成测试计划的方法和装置、用于测试测量对象的方法和装置以及计算机程序产品
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112166298A
申请号 ：
CN201880093523.1
公开（公告）日 ：
2021-01-01
申请日 ：
2018-05-17
授权号 ：
CN112166298B
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
A.C.迈尔亚当S.里格F.迈耶
申请人 ：
卡尔蔡司工业测量技术有限公司
申请人地址 ：
德国上科亨
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
王蕊瑞
优先权 ：
CN201880093523.1
主分类号 ：
G01B21/04
IPC分类号 ：
G01B21/04 G05B19/401
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B21/04
通过测量各点的坐标
法律状态
2022-05-17 ：
授权
2021-01-19 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 21/04
申请日 : 20180517
申请日 : 20180517
2021-01-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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