用于光学连接器的检测装置
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摘要

本发明提供了一种用于光学套管的检测装置,所述检测装置包括一个或多个反射器。每个反射器具有配合表面和相对于所述配合表面以倾斜角度设置的反射镜。当所述光学套管设置在光学连接器的外壳内时,每个反射器被配置为与所述光学套管配合。当所述反射器的所述配合表面与所述光学套管的所述配合表面配合接触时,所述反射镜被定位成提供所述光学套管的配合表面的至少一部分的反射视图。

基本信息
专利标题 :
用于光学连接器的检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110018180A
申请号 :
CN201910015892.5
公开(公告)日 :
2019-07-16
申请日 :
2019-01-08
授权号 :
CN110018180B
授权日 :
2022-05-24
发明人 :
迈克尔·A·哈斯郝冰
申请人 :
3M创新有限公司
申请人地址 :
美国明尼苏达州圣保罗市邮政信箱33427,3M中心55133-3427
代理机构 :
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 :
周晨
优先权 :
CN201910015892.5
主分类号 :
G01N21/94
IPC分类号 :
G01N21/94  G01N21/958  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/94
研究污染,例如灰尘
法律状态
2022-05-24 :
授权
2019-08-09 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/94
申请日 : 20190108
2019-07-16 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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