用于ESA度量的方法和系统
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摘要
用于测试相控天线阵列的方法和系统包括将相控天线阵列和探测天线定位在相对于彼此的相对位置处，其中它们中的一个可以作为发射器来操作并且另一个作为接收器来操作。发射器可以顺序地辐射多个电磁波，同时针对每个辐射的电磁波来不同地操纵或配置相控天线阵列。接收器可以响应于每个辐射的电磁波来接收对应的接收射频(RF)信号。处理器可以使用接收RF信号来确定相控天线阵列的一个或多个性能参数。
基本信息
专利标题 ：
用于ESA度量的方法和系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110095658A
申请号 ：
CN201910080846.3
公开（公告）日 ：
2019-08-06
申请日 ：
2019-01-28
授权号 ：
CN110095658B
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
李·M·保尔森达纳·J·延森约珥·T·吉列特阿德里安·A·希尔康纳·C·麦克布莱德
申请人 ：
罗克韦尔柯林斯公司
申请人地址 ：
美国爱荷华州
代理机构 ：
北京品源专利代理有限公司
代理人 ：
王小衡
优先权 ：
CN201910080846.3
主分类号 ：
G01R29/10
IPC分类号 ：
G01R29/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2022-05-17 ：
授权
2019-08-30 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 29/10
申请日 : 20190128
申请日 : 20190128
2019-08-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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