气体分析装置
授权
摘要
本发明提供一种气体分析装置，该气体分析装置(1)包括：向包含待测气体(G)的测定区域(R1)照射测定光的发光部(21)；接收通过测定区域(R1)后的测定光的第一光接收部(22)；配置在发光部(21)与测定区域(R1)之间且将发光部(21)所照射的测定光的一部分分光为参照光的分光部(24)；包含有与待测气体(G)中的测定对象成分相同且浓度已知的气体并具有接收通过包含有气体的区域后的参照光的第二光接收部(26)的参照部(25)；以及配置在分光部(24)与包含有气体的区域之间的光学器件(28)，光学器件(28)使第二光接收部(26)上参照光的光束直径大于第二光接收部(26)的光接收直径。
基本信息
专利标题 ：
气体分析装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110389102A
申请号 ：
CN201910266635.9
公开（公告）日 ：
2019-10-29
申请日 ：
2019-04-03
授权号 ：
CN110389102B
授权日 ：
2022-05-03
发明人 ：
小林由贵松尾纯一藤村直之
申请人 ：
横河电机株式会社
申请人地址 ：
日本东京
代理机构 ：
上海专利商标事务所有限公司
代理人 ：
陈亦欧
优先权 ：
CN201910266635.9
主分类号 ：
G01N21/31
IPC分类号 ：
G01N21/31 G01N21/39
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术
法律状态
2022-05-03 ：
授权
2019-11-22 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/31
申请日 : 20190403
申请日 : 20190403
2019-10-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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