错误更正码存储器装置和码字存取方法
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摘要

本发明提供一种错误更正码存储器装置和码字存取方法,码字存取方法包括:接收具有M个信息比特的写入数据;基于错误更正算法和M个信息比特产生具有N‑M个比特的奇偶校验信息,其中N和M是正整数;通过扰乱操作将M个信息比特和奇偶校验信息转换为具有N个比特的扰乱码字;以及将扰乱码字写入存储器装置。

基本信息
专利标题 :
错误更正码存储器装置和码字存取方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111462807A
申请号 :
CN201910280884.3
公开(公告)日 :
2020-07-28
申请日 :
2019-04-09
授权号 :
CN111462807B
授权日 :
2022-06-07
发明人 :
连存德谢明辉林纪舜
申请人 :
华邦电子股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾台中市大雅区科雅一路8号
代理机构 :
北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人 :
罗英
优先权 :
CN201910280884.3
主分类号 :
G11C29/42
IPC分类号 :
G11C29/42  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验;备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试,例如,在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置,例如,内置的自检装置
G11C29/38
响应验证装置
G11C29/42
用纠错码或奇偶校验检查
法律状态
2022-06-07 :
授权
2020-08-21 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/42
申请日 : 20190409
2020-07-28 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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