基于分层错误检测的存储器错误校正
公开
摘要
本申请案涉及基于分层错误检测的存储器错误校正。在一些实例中，存储器系统可基于第一类型的错误检测程序识别一组位包含仅基于所述第一类型的错误检测程序无法校正的一定数量的错误位。所述存储器系统可基于更改所述一组位内的不同群组的位来产生一或多组候选位及使用第二类型的错误检测程序评估一或多组此类候选位直到一组候选位被识别为无错。接着，所述存储器系统可基于识别为无错的所述一组候选位校正所述一组位。
基本信息
专利标题 ：
基于分层错误检测的存储器错误校正
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114627953A
申请号 ：
CN202111497492.6
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2021-12-09
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
S·D·汉娜
申请人 ：
美光科技公司
申请人地址 ：
美国爱达荷州
代理机构 ：
北京律盟知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
王龙
优先权 ：
CN202111497492.6
主分类号 ：
G11C29/42
IPC分类号 ：
G11C29/42 G06F11/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试，例如，在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置
G11C29/38
响应验证装置
G11C29/42
用纠错码或奇偶校验检查
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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