检测和校正破坏性读取的非易失性存储器中的错误的方法和设备
授权
摘要
在本发明所描述的检测和校正破坏性读取的非易失性存储器(104)中的错误的方法和设备(102)的实例中，所述方法及设备(102)响应于稳定化电源而确定存储在非易失性存储器(104)中的状态标记。在所述状态标记不正常的实例中，所述方法和设备(102)对编码在所述破坏性读取的非易失性存储器(104)中的错误校正码进行解码。
基本信息
专利标题 ：
检测和校正破坏性读取的非易失性存储器中的错误的方法和设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN108292520A
申请号 ：
CN201680066019.3
公开（公告）日 ：
2018-07-17
申请日 ：
2016-11-21
授权号 ：
CN108292520B
授权日 ：
2022-05-10
发明人 ：
朱玉明马尼什·戈埃尔张赛
申请人 ：
德州仪器公司
申请人地址 ：
美国德克萨斯州
代理机构 ：
北京律盟知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
林斯凯
优先权 ：
CN201680066019.3
主分类号 ：
G11C29/42
IPC分类号 ：
G11C29/42
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用纠错码或奇偶校验检查
法律状态
2022-05-10 ：
授权
2018-12-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/42
申请日 : 20161121
申请日 : 20161121
2018-07-17 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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