存储器装置和存储器装置中的错误校正方法
公开
摘要
本发明提供一种存储器装置和一种校正存储器装置中的错误的方法。存储器装置控制器包含存储阵列、连结断路器阵列、写入控制器、验证电路以及控制器。存储阵列包含多个存储单元。连结断路器阵列包含多个连结断路器行。写入控制器配置成将编程电压施加到存储阵列。验证电路配置成施加验证电压以验证存储阵列中的存储单元是否处于明确状态。控制器配置成在存储阵列中的存储单元处于模糊状态时启用除存储阵列外的一个或多个连结断路器行以调整存储阵列的输出。
基本信息
专利标题 ：
存储器装置和存储器装置中的错误校正方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114627951A
申请号 ：
CN202110592223.1
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2021-05-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
柯文升
申请人 ：
台湾积体电路制造股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾新竹科学工业园区新竹市力行六路八号
代理机构 ：
南京正联知识产权代理有限公司
代理人 ：
顾伯兴
优先权 ：
CN202110592223.1
主分类号 ：
G11C29/42
IPC分类号 ：
G11C29/42 G11C29/50 G06F11/10 G11C16/10 G11C16/24 G11C16/34 G11C17/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试，例如，在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置
G11C29/38
响应验证装置
G11C29/42
用纠错码或奇偶校验检查
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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