确定不良原因的方法、装置、电子设备及存储介质
授权
摘要
本发明公开了一种确定不良原因的方法、装置、设备及存储介质,其中,确定不良原因的方法包括:在检测对象存在已知不良时,抽取所述检测对象的生产数据,所述生产数据至少包括生产履历数据、生产设备的标识以及生产设备参数中的一种;将所述生产数据输入预先训练得到的模型,得到与所述已知不良有关的生产工序、生产设备以及生产设备参数中的至少一种,其中,所述模型根据所述检测对象的生产样本数据进行训练得到,所述生产样本数据中的各条数据标记了与所述已知不良之间的相关性,本发明可提高确定不良原因的效率。
基本信息
专利标题 :
确定不良原因的方法、装置、电子设备及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110276410A
申请号 :
CN201910570414.0
公开(公告)日 :
2019-09-24
申请日 :
2019-06-27
授权号 :
CN110276410B
授权日 :
2022-06-03
发明人 :
曾颖黎刘亚光杨素传
申请人 :
京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司
申请人地址 :
北京市朝阳区酒仙桥路10号
代理机构 :
北京风雅颂专利代理有限公司
代理人 :
于小凤
优先权 :
CN201910570414.0
主分类号 :
G06K9/62
IPC分类号 :
G06K9/62 G06Q50/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06K
数据识别;数据表示;记录载体;记录载体的处理
G06K9/00
用于阅读或识别印刷或书写字符或者用于识别图形,例如,指纹的方法或装置
G06K9/62
应用电子设备进行识别的方法或装置
法律状态
2022-06-03 :
授权
2019-10-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06K 9/62
申请日 : 20190627
申请日 : 20190627
2019-09-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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