解像力测试方法、设备及存储介质
授权
摘要
本申请公开了一种光学成像系统的解像力测试方法、设备及存储介质。所述解像力测试方法包括：通过所述光学成像系统对包含多个圆形图案的标板进行拍摄以获取测试图像，所述测试图像包含与所述多个圆形图案对应的多个第一图案；基于所述多个第一图案中的待测第一图案的边界上的基点和所述待测第一图案的经过所述基点的法线确定边缘扩展路径；沿所述边缘扩展路径超采样提取所述测试图像的像素信息；以及基于所超采样提取的像素信息确定所述光学成像系统的MTF。
基本信息
专利标题 ：
解像力测试方法、设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112203080A
申请号 ：
CN201910609620.8
公开（公告）日 ：
2021-01-08
申请日 ：
2019-07-08
授权号 ：
CN112203080B
授权日 ：
2022-06-03
发明人 ：
陈永明冯天山黄宇
申请人 ：
宁波舜宇光电信息有限公司
申请人地址 ：
浙江省宁波市余姚市舜宇路66-68号
代理机构 ：
北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
王达佐
优先权 ：
CN201910609620.8
主分类号 ：
H04N17/00
IPC分类号 ：
H04N17/00
法律状态
2022-06-03 ：
授权
2021-01-26 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04N 17/00
申请日 : 20190708
申请日 : 20190708
2021-01-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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