同位素比测量
授权
摘要
操作同位素比谱仪用于测量样品。在第一测量时间段内在谱仪中测量参考的第一同位素比和第一信号强度。确定包括第一同位素比和第一信号强度之间的关系的第一关系。在第一测量时间段之后的第二测量时间段内在谱仪中测量样品同位素比和样品信号强度。在第二测量时间段之后的第三测量时间段内在谱仪中测量参考的第二同位素比和第二信号强度。确定包括第二同位素比和第二信号强度之间的关系的第二关系。基于第一关系和第二关系估算第二测量时间段内的时间X的参考同位素比。
基本信息
专利标题 ：
同位素比测量
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110823989A
申请号 ：
CN201910726732.1
公开（公告）日 ：
2020-02-21
申请日 ：
2019-08-07
授权号 ：
CN110823989B
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
N·施特贝纳J·拉德克J·施韦特斯H·捷格林斯基
申请人 ：
塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请人地址 ：
德国不来梅
代理机构 ：
上海专利商标事务所有限公司
代理人 ：
陈洁
优先权 ：
CN201910726732.1
主分类号 ：
G01N27/62
IPC分类号 ：
G01N27/62 G01N21/31
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/62
通过测试气体的电离，例如气溶胶；通过测试放电，例如阴极发射
法律状态
2022-05-17 ：
授权
2020-03-17 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 27/62
申请日 : 20190807
申请日 : 20190807
2020-02-21 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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