测量铀同位素位移光谱的方法和装置
专利权的终止
摘要
一种测量铀同位素位移光谱的光电流光谱方法和装置。采用双光路均测待测信号的检测系统，把一束可调谐染料激光分成两路，E238U和235U同位素空心阴极灯分别置于双光路中，激光按波长扫描共振辐照双灯，先后产生235U和235U的两个光电流强信号，信号经放大后合并记录由该二强信号形成的同位素位移光谱。显著地提高了测定灵敏度与准确度。并可测量单光路法不能测量的零位移光谱。
基本信息
专利标题 ：
测量铀同位素位移光谱的方法和装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85102218A
申请号 ：
CN85102218.9
公开（公告）日 ：
1986-09-24
申请日 ：
1985-04-01
授权号 ：
CN85102218B
授权日 ：
1988-05-25
发明人 ：
金巨广王松岳孙孝忠徐俊王秀兰金昌泰生明涛
申请人 ：
中国科学院长春应用化学研究所
申请人地址 ：
吉林省长春市斯大林大街109号
代理机构 ：
中科院长春专利事务所
代理人 ：
曹桂珍
优先权 ：
CN85102218.9
主分类号 ：
G01J3/42
IPC分类号 ：
G01J3/42
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/28
光谱测试
G01J3/42
吸收光谱法；双束光谱法；闪烁光谱法；反射光谱法
法律状态
1990-08-15 ：
专利权的终止
1989-02-22 ：
授权
1988-05-25 ：
审定
1987-03-04 ：
实质审查请求
1986-09-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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