一种高强度光谱的测量方法、系统和光谱测量装置
公开
摘要
本发明公开了一种高强度光谱的测量方法、系统和光谱测量装置，确定可调光衰减器的衰减程度A和待测光在光谱最大强度I时的曝光时间T，根据光谱仪在该衰减程度A和该曝光时间T下采集的待测光的光谱强度，结合衰减程度A的衰减系数，计算得到待测光的实际光谱。在本发明中，通过在光谱测量装置中设置可调光衰减器，通过设置可调光衰减器的衰减程度和设置曝光时间长短的优化组合，可以将高强度光谱进行衰减，以使得光谱仪采集的光谱在其最大探测强度内，避免出现在探测高强度光谱时CCD探测器计数饱和而导致光谱数据失真，并降低使用单个手段所产生的测量误差。本发明适合于测量强吸收样品的吸收光谱，有助于提高其吸收光谱的测量精确度。
基本信息
专利标题 ：
一种高强度光谱的测量方法、系统和光谱测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114609073A
申请号 ：
CN202210500485.5
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-05-10
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张洪明胡乃银黄超诸允良
申请人 ：
安徽中科谱康科技有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市高新区习友路2666号中科院合肥技术创新工程院2号楼307室
代理机构 ：
合肥金律专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
程笃庆
优先权 ：
CN202210500485.5
主分类号 ：
G01N21/31
IPC分类号 ：
G01N21/31 G01J3/42 G01J3/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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