位移测量装置
授权
摘要
位移测量装置(20)包括霍尔传感器(37)和安装在磁体壳体(38)中的磁体(35)，磁体壳体(38)在容纳空间(47)中具有旋转自由度，调节装置以获得最佳的灵敏度包括旋转磁体壳体(36)。在调节之后，磁体壳体(36)固定在容纳空间(47)中。
基本信息
专利标题 ：
位移测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110799799A
申请号 ：
CN201880036084.0
公开（公告）日 ：
2020-02-14
申请日 ：
2018-06-01
授权号 ：
CN110799799B
授权日 ：
2022-04-29
发明人 ：
巴斯蒂安·安德烈亚斯·德赫尔里彭马克·安东尼·曼奈斯
申请人 ：
爱德拜克私人有限公司
申请人地址 ：
2d
代理机构 ：
上海华诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
肖华
优先权 ：
CN201880036084.0
主分类号 ：
G01B7/00
IPC分类号 ：
G01B7/00 G01L1/12 B62M6/50 G01D5/14 G01B7/24 G01L5/13
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
法律状态
2022-04-29 ：
授权
2020-05-12 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 7/00
申请日 : 20180601
申请日 : 20180601
2020-02-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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