磁阻位移测量装置
实质审查的生效
摘要
本发明公开一种磁阻位移测量装置，包括：一个磁性标尺，可沿其长度方向移动；和多个磁阻传感器，沿所述磁性标尺的长度方向均匀间隔分布，用于检测所述磁性标尺的位移。所述多个磁阻传感器串联电连接，并且相邻两个磁阻传感器之间的间距等于所述磁性标尺的长度H。在本发明中，通过将多个磁阻传感器串联，可在不增加安装空间的尺寸的情况下增大磁性标尺的行程和减小磁性标尺的长度。
基本信息
专利标题 ：
磁阻位移测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114508993A
申请号 ：
CN202011279095.7
公开（公告）日 ：
2022-05-17
申请日 ：
2020-11-16
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
梅辉安德里亚斯·沃斯杨峰
申请人 ：
精量电子（深圳）有限公司;泰连传感器德国有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区高新技术园北区朗山路26号精量电子亚洲总部大楼
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
汪洋
优先权 ：
CN202011279095.7
主分类号 ：
G01B7/02
IPC分类号 ：
G01B7/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
G01B7/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2022-06-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 7/02
申请日 : 20201116
申请日 : 20201116
2022-05-17 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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