一种准光馈电网络系统及误差测试方法
授权
摘要
本申请提供了一种准光馈电网络系统,系统包括共基准框架、准光馈电网络子系统和定标子系统,共基准框架是准光馈电网络子系统和定标子系统的装配基准;准光馈电网络子系统集成于一准光框架内部,准光框架与共基准框固定连接;定标子系统集成于一定标框架内部,定标框架与共基准框固定连接;准光馈电网络系统装配精度检测使用一台激光跟踪仪,用于测量共基准框架上三个正交的基准平面建立测量坐标系,通过分别测量准光框架和定标框架上棱镜组构成的三个正交基准平面依次建立准光框架坐标系和定标框架坐标系,并通过准光框架坐标系与测量坐标系的位置关系判断装配误差。
基本信息
专利标题 :
一种准光馈电网络系统及误差测试方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110440693A
申请号 :
CN201910800707.3
公开(公告)日 :
2019-11-12
申请日 :
2019-08-27
授权号 :
CN110440693B
授权日 :
2022-04-01
发明人 :
钱志鹏邙晓斌谢振超李向芹鹿昌剑魏鹏鹏
申请人 :
上海航天计算机技术研究所
申请人地址 :
上海市闵行区中春路1777号
代理机构 :
上海汉声知识产权代理有限公司
代理人 :
胡晶
优先权 :
CN201910800707.3
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-04-01 :
授权
2019-12-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/00
申请日 : 20190827
申请日 : 20190827
2019-11-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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