一种利用荧光光谱特征信息实现快速识别比对的方法
授权
摘要
本发明公开了一种利用荧光光谱特征信息实现快速识别比对的方法，该方法包括：（1）将原始荧光光谱文件中有效的行列数据信息保存，剔除文件中的非数据部分等共计34个步骤，本发明所公开的方法无须经过上述繁琐的数学解析方法，仅对由荧光仪采集的数据进行适当处理，通过选峰程序，确立荧光峰强度和峰中心位置坐标等特征信息，建立以峰强度和峰中心位置坐标等信息为基础的相关特征参数指标，由峰强度峰中心位置坐标计算得到的这些特征相关参数指标构建便于计算机自动计算的矩阵形式，从而与参照比对数据库的样本进行相似度系数的计算与匹配，获得准确的识别与判别信息，识别与比对正确率高，检测速度快。
基本信息
专利标题 ：
一种利用荧光光谱特征信息实现快速识别比对的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110554013A
申请号 ：
CN201910808925.1
公开（公告）日 ：
2019-12-10
申请日 ：
2019-08-29
授权号 ：
CN110554013B
授权日 ：
2022-05-20
发明人 ：
何鹰魏峨尊高贝贝王南达王欣李京都刘莎莎
申请人 ：
华夏安健物联科技（青岛）有限公司
申请人地址 ：
山东省青岛市黄岛区保税港区汉城路1号华乐大厦4楼厂房、附房7楼（B）
代理机构 ：
山东诚功律师事务所
代理人 ：
封代臣
优先权 ：
CN201910808925.1
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64 G06K9/62
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
2022-05-20 ：
授权
2020-01-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/64
申请日 : 20190829
申请日 : 20190829
2019-12-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN110554013A.PDF
PDF下载
