基于DMD的荧光光谱探测方法
公开
摘要
本发明涉及荧光光谱探测的技术领域，公开了基于DMD的荧光光谱探测方法，包括以下步骤：S1：搭建荧光光谱探测的光学系统，光学系统包括DMD、色散单元和探测器；S2：获取光学系统的光谱矫正系数R，包括以下步骤：S21：测量标准光源的光谱数据L；S22：将标准光源导入光学系统，在DMD上加载多幅光谱图案，测得光谱数据S；则光谱矫正系数R＝(S‑B)/L，B为噪声；S3：重建荧光光谱，将标准光源换成待测样品，多幅光谱图案，测得光谱数据I；则待测样品的荧光光谱f＝(I*L)/(S‑B)。采用了DMD对色散光进行选择性的输出，充分利用DMD像素级调控的优势对光谱进行拆分、编码和重建，本探测方法的光谱的采样点比多通道探测器多，光谱检测的精度和方式要优于多通道探测器。
基本信息
专利标题 ：
基于DMD的荧光光谱探测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114295593A
申请号 ：
CN202111464695.5
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-12-02
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
黄晨明余佳高玉峰香凤王楠楠郑炜
申请人 ：
中国科学院深圳先进技术研究院
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区西丽深圳大学城学苑大道1068号
代理机构 ：
深圳市壹品专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
周婷
优先权 ：
CN202111464695.5
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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