探测器阵列和光谱仪系统
公开
摘要
公开了探测器阵列(112)、包括探测器阵列(112)的光谱仪系统(110)和光谱仪系统(110)的各种用途。光谱仪系统可用于各种研究或监测目的，特别是在红外光谱区域中，尤其是在近红外和中红外光谱区域中。在此，探测器阵列(112)包括基板(212)；以及多个探测器像素(144)，其应用于基板(212)的表面，其中每个探测器像素(144)具有传感器区域(214)，该传感器区域被指定用于接收入射光(114)的部分，其中每个探测器像素(144)被指定用于根据由探测器像素(144)的传感器区域所接收到的入射光(114)的部分的强度而产生传感器信号，其中至少两个相邻的探测器像素(144)共享到公共电势(316)的单个连接，并且其中至少两个探测器像素(144)的传感器区域相对于彼此相差对应的传感器区域(214)的面积(220)。
基本信息
专利标题 ：
探测器阵列和光谱仪系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114502930A
申请号 ：
CN202080069251.9
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2020-09-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
S·瓦鲁施W·赫尔梅斯C·朗根施密德J·布里尔R·古斯特R·森德B·福伊尔施泰因S·克鲁厄
申请人 ：
特里纳米克斯股份有限公司
申请人地址 ：
德国莱茵河畔路德维希港
代理机构 ：
北京市中咨律师事务所
代理人 ：
王英杰
优先权 ：
CN202080069251.9
主分类号 ：
G01J3/26
IPC分类号 ：
G01J3/26 G01J3/28 G01J3/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/12
光谱的产生；单色器
G01J3/26
应用多次反射，例如，法布里—珀罗干涉仪，可变干涉滤光器
法律状态
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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