光谱仪的光学系统
公开
摘要
一种光谱仪设备(100)，包括入射孔径(2)、衍射光栅(3)、对进入的光(L)进行光谱测量两个检测器(5a，5b)，检测器位于偏转平面的同一侧。两个垂直聚焦镜(4，4a，4b)将光聚焦到探测器上，其沿两个多边形图形(6a，6b)排列成前排镜(4b)和后排镜(4a)，前排镜和后排镜相互之间偏移并和焦点曲线偏移。前排镜的偏转角小于90°，可以使前排镜(4b)对焦点曲线的偏移(d1)最小。前排镜和相应的检测器(5b)之间的距离(d1)最小，同时仍然避免检测器(5b)及其支架与后排检测器(5a)及其支架之间的碰撞。前排镜元件与相邻的后排镜元件重叠。
基本信息
专利标题 ：
光谱仪的光学系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114599945A
申请号 ：
CN202080075174.8
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2020-11-06
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
海因茨·尤尔根·格拉夫莱纳·西蒙斯
申请人 ：
日立高科技分析科学有限公司
申请人地址 ：
德国于德姆
代理机构 ：
上海华诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
肖华
优先权 ：
CN202080075174.8
主分类号 ：
G01J3/02
IPC分类号 ：
G01J3/02 G01J3/36 G01J3/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/02
零部件
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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