一种基于MEMS微镜的干涉仪一体镜及系统
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摘要

本发明公开了一种基于MEMS微镜的干涉仪一体镜及系统,适用于紧凑型FTIR光谱测量系统。基于迈克尔逊干涉原理,将MEMS微镜与传统干涉系统进行集成,缩小系统体积、简化装调误差和提高稳定性。将干涉一体镜设计成对称结构,减少温度变化导致的热变形对干涉的影响,并且所述干涉仪一体镜对系统的其它光学元件的装配误差不敏感。所述干涉一体镜不同于传统迈克尔逊干涉仪,取消了定镜的使用,对MEMS微镜前表面和后表面反射回来的光进行干涉,放大光束之间的光程差,从而提高光谱分辨率,降低了对MEMS微镜的最大振幅要求。

基本信息
专利标题 :
一种基于MEMS微镜的干涉仪一体镜及系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113155286A
申请号 :
CN202110386548.4
公开(公告)日 :
2021-07-23
申请日 :
2021-04-12
授权号 :
CN113155286B
授权日 :
2022-04-01
发明人 :
易飞万浩威谈小超陈岩
申请人 :
华中科技大学
申请人地址 :
湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
代理机构 :
华中科技大学专利中心
代理人 :
王颖翀
优先权 :
CN202110386548.4
主分类号 :
G01J3/45
IPC分类号 :
G01J3/45  G01J3/02  G02B26/08  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/28
光谱测试
G01J3/45
干涉光谱法
法律状态
2022-04-01 :
授权
2021-08-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 3/45
申请日 : 20210412
2021-07-23 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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