一种X荧光光谱仪探测器冷却装置
授权
摘要

本实用新型提供了一种X荧光光谱仪探测器冷却装置,属于X荧光光谱仪探测器领域,该X荧光光谱仪探测器冷却装置,包括外散热组件与内散热组件。使用时,通过第二翅片对防护外壳的内的热量进行吸收,并转移到散热管上,然后通过散热风机对散热管内进行鼓风,将散热管内的热量输送到防护外壳外部,并且散热管内的空气通过导管上的通孔流出时带动第一翅片周围空气的流动,使第一翅片周围空气流动速度较快,增加了防护外壳与第一翅片的散热效果,本实用散热速度快,散热效果突出,很好的将探测器工作时产生的热量进行转移,保证探测器的工作温度正常,进而保证了X荧光光谱仪探测的准确性。

基本信息
专利标题 :
一种X荧光光谱仪探测器冷却装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921464804.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-04
授权号 :
CN210775290U
授权日 :
2020-06-16
发明人 :
卓剑峰何敏燕
申请人 :
杭州和瑞精密仪器有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市滨江区长河街道江南大道518号兴耀大厦第17层1708室
代理机构 :
北京沁优知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
蔡岩岩
优先权 :
CN201921464804.1
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223  H05K7/20  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2020-06-16 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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