一种X荧光光谱仪冷却装置
授权
摘要
本实用新型公开的一种X荧光光谱仪冷却装置，包括光谱仪固定板，所述光谱仪固定板的上表面固定安装有风扇安装板，所述风扇安装板的内侧四角位置均固定安装有安装板固定螺丝，所述风扇安装板的内侧中间位置转动安装有风扇电机轴，所述风扇电机轴的外表面固定安装有多个旋转扇叶，所述光谱仪固定板的下表面固定安装有四个贴合挡板，所述贴合挡板的外表面固定安装有散热鳍片。本实用新型所述的一种X荧光光谱仪冷却装置，能够将X荧光光谱仪产生的热量进行导出，增加X荧光光谱仪热量散发的速度，从而提高了对X荧光光谱仪的降温效率，能够快速的连接固定，以及快速的进行拆卸，方便装置的安装使用。
基本信息
专利标题 ：
一种X荧光光谱仪冷却装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921886096.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-05
授权号 ：
CN211122607U
授权日 ：
2020-07-28
发明人 ：
李福生王清亚
申请人 ：
南昌通莱电子科技有限公司
申请人地址 ：
江西省南昌市高新技术产业开发区艾溪湖北路688号中兴软件园
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921886096.0
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223 F25D1/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2020-07-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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