基于混合粒子群和连续投影的荧光光谱二次特征选择方法
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摘要
本发明公开了一种基于混合粒子群和连续投影的荧光光谱二次特征选择方法,其特征在于:首先应用混合粒子群算法对荧光光谱进行第一次特征选择,从原始高维的荧光光谱中优选出若干维具有显著特征的荧光光谱实现第一次降维;然后在特征光谱中继续应用连续投影算法实现第二次特征选择,以此对荧光光谱进行第二次降维。该方法充分利用了粒子群算法、遗传算法和连续投影算法的优点,能对荧光光谱实现有效降维。
基本信息
专利标题 :
基于混合粒子群和连续投影的荧光光谱二次特征选择方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112819062A
申请号 :
CN202110114945.6
公开(公告)日 :
2021-05-18
申请日 :
2021-01-26
授权号 :
CN112819062B
授权日 :
2022-05-17
发明人 :
季仁东王晓燕曹苏群卞海溢朱铁柱庄立运杨玉东顾相平韩月蒋喆臻
申请人 :
淮阴工学院
申请人地址 :
江苏省淮安市涟水县海安路10号安东大厦8楼
代理机构 :
淮安市科文知识产权事务所
代理人 :
姜华
优先权 :
CN202110114945.6
主分类号 :
G06K9/62
IPC分类号 :
G06K9/62 G06K9/46 G06N3/00 G06N3/12
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应用电子设备进行识别的方法或装置
法律状态
2022-05-17 :
授权
2021-06-04 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06K 9/62
申请日 : 20210126
申请日 : 20210126
2021-05-18 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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