用于电离样品的质谱分析探针和系统
授权
摘要
本发明大体上涉及用于电离样品的质谱分析探针和系统。在某些实施例中，本发明提供一种质谱分析探针，其包括衬底，其中该衬底的一部分涂布有一种材料，其一部分从该衬底突出。
基本信息
专利标题 ：
用于电离样品的质谱分析探针和系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110648894A
申请号 ：
CN201910835375.2
公开（公告）日 ：
2020-01-03
申请日 ：
2014-12-22
授权号 ：
CN110648894B
授权日 ：
2022-05-13
发明人 ：
罗伯特·格雷厄姆·库克斯D·萨卡尔塔拉皮·普拉迪普R·玛拉亚南
申请人 ：
普度研究基金会;印度理工学院马德拉斯分校
申请人地址 ：
美国印第安纳州
代理机构 ：
上海德昭知识产权代理有限公司
代理人 ：
郁旦蓉
优先权 ：
CN201910835375.2
主分类号 ：
H01J49/00
IPC分类号 ：
H01J49/00 H01J49/04 H01J49/16
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J49/00
粒子分光仪或粒子分离管
法律状态
2022-05-13 ：
授权
2020-02-04 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01J 49/00
申请日 : 20141222
申请日 : 20141222
2020-01-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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